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TRACKSCAN-DUO

主动跟踪 无需贴点 精度极高

TRACKSCAN-DUO系统具备极大测量范围和极高测量精度。在高难度的三维扫描项目中,TRACKSCAN-DUO是最顶尖三维测量解决方案,扫描过程快速简单,扫描数据精度极高,得益于Metronor30年测量技术沉淀,TRACKSCAN-DUO便携式三维测量系统具有极高的精度、最佳的扫描结果。

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LED光学跟踪技术,主动寻靶定位,具备更强的抗干扰能力和更大的工作量程


支持单镜头、多镜头等多种光学跟踪装置方案,根据需求调整工作区域,扫描区域和扫描精度之间完美平衡


产品特点

  • 独特的跟踪技术

    LED光学跟踪技术,主动寻靶定位,具备更强的抗干扰能力和更大的工作量程

  • 超大的测量范围

    激光扫描时最大工作距离可达10米,接触式光笔最大测量距离可达15米,轻松实现大物体三维检测

  • 接触式测量兼容 

    配合TrackProbe 光笔,可实现接触式三维测量,1μm分辨率保证关键点高精度三维数据获取

  • 灵活的测量方案 

    支持单镜头、多镜头等多种光学跟踪装置方案,可调整工作区域,扫描区域和扫描精度之间完美平衡

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